SJ 50033/164-2003 半导体分立器件PIN0002型PIN二极管详细规范
时间:2024-05-29 19:38:41 来源: 标准资料网 作者：标准资料网 阅读：9738
基本信息
| 标准名称： | 半导体分立器件PIN0002型PIN二极管详细规范 |
| 英文名称： | Semiconductor discrete devices Detail specification for type PIN0002 PIN diode |
| 中标分类： |
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| ICS分类： |
电子学 >>
半导体器件 >>
二极管
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| 发布日期： | 2003-12-15 |
| 实施日期： | 2004-03-01 |
| 首发日期： | 1900-01-01 |
| 作废日期： | 1900-01-01 |
| 出版社： | 工业电子出版社 |
| 出版日期： | 2005-02-11 |
| 页数： | 9页 |
适用范围
没有内容
前言
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目录
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引用标准
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所属分类： 电子学 半导体器件 二极管
【英文标准名称】:Basicenvironmentaltestingprocedures-Part2:Tests;testEd:Freefall(IEC60068-2-32:1975+A1:1982+A2:1990);GermanversionEN60068-2-32:1993
【原文标准名称】:基本环境试验程序.第2部分:试验.试验Ed:自由跌落
【标准号】:DINEN60068-2-32-1995
【标准状态】:作废
【国别】:德国
【发布日期】:1995-03
【实施或试行日期】:
【发布单位】:德国标准化学会(DE-DIN)
【起草单位】:
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:环境试验;气候试验;应力;跌落;跌落试验;电学;机械试验;元部件;材料试验;电气工程;电气器具
【英文主题词】:Climatictests;Components;Drop;Droptests;Electricappliances;Electricalengineering;Electricity;Environment;Environmentaltesting;Freefall;Impacttests;Materialstesting;Mechanicaltesting;Stress;Testing
【摘要】:Thisdocumentcontains:1st.Asimpletesttodemonstratetheeffectsofthefallduringroughhandling.2ndTestingofcable-connecteddevicessuchasconnectorsandsmallremotecontrolunitswhichmaybedroppedfrequentlyonzohardsurfaces.
【中国标准分类号】:A21
【国际标准分类号】:19_040
【页数】:7P;A4
【正文语种】:德语